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日本日置FT3470-51磁场测试仪 替代HIOKI3470 HIOKI高斯计-简介：
是日本日置最新推出的一款环境测量仪，替代老型号3470，非常适用于3轴的磁通密度测量，适用于以ICNIRP2010准则为基础的评估试验。
日本日置FT3470-51磁场测试仪 替代HIOKI3470 HIOKI高斯计-特点：
1.符合IEC62110/IEEE 644以及EN62233标准
2.标配符合IEC/EN62233的100cm2的磁场传感器
3.显示单位可选(T，A/m，G)
4.操作简单，轻松测量
5.标配PC应用软件
日本日置FT3470-51磁场测试仪 替代HIOKI3470 HIOKI高斯计-技术参数：
磁通密度(带宽) | 10 Hz～400 kHz/ 10 Hz～2 kHz/ 2 kHz～400 kHz |
曝露等级 | 一般/专业 |
显示 | X/Y/Z单轴(2000点)，复合真有效值R(3464点)，磁通密度(单位：T，G，A/m)，曝露等级(单位：%) |
磁通密度
量程，精度 | [X/Y/Z轴]有效测量范围：2.000 μT～2.000 mT,4档量程
精度：±3.5% rdg. ±0.5% f.s.
[R轴]有效测量范围：3.464 μT～3.464 mT, 4档量程
精度：±3.5% rdg. ±0.5% f.s.
[有效测量频率范围] 10Hz-400kHz模式时: 50Hz～100kHz
10Hz-2kHz模式时: 50Hz～1kHz
2kHz-400kHz模式时: 5kHz～100kHz |
曝露等级
量程，精度 | [X/Y/Z轴]有效测量范围：20.00%～200.0%, 2档量程
[R轴]有效测量范围：34.64%～346.4%, 2档量程
精度：平滑边缘50Hz～1kHz，±3.5% rdg. ±0.5% f.s.
精度：平滑边缘1kHz～100kHz，±5.0% rdg. ±0.5% f.s. |
接口 | 输出种类：合成真有效值电平输出，曝露等级输出，磁通密度X/Y/Z各轴的波形输出，输出率：0.1mV/显示点数 |
USB1.1：使用专用PC应用软件读取数据 |
其他 | 存储功能：最大99个数据，减缓功能，最大值保持，自动省电，蜂鸣音ON/OFF |
电源 | 5号碱性电池(LR6)×4, 连续使用时间：10h，或AC适配器9445-02(使用AC适配器时最大1.0VA) |
体积及重量 | 主机：100W × 150H × 42D mm, 830g (含电池) |
100cm2磁场传感器：φ122 × 295L mm, 220g |
日本日置FT3470-51磁场测试仪 替代HIOKI3470 HIOKI高斯计-标配PC应用软件 (FT3470用DATA VIEWER)
操作环境 Windows 7 (32/64bit), Vista (32/64bit), XP
功能 真有效值采集/一次性读取，CSV文件格式
日本日置FT3470-51磁场测试仪 替代HIOKI3470 HIOKI高斯计-标配：
100 cm2 磁场传感器
感应横截面积：100cm2，符合IEC/EN62233标准的标准传感器
服务承诺：
1、正品保障：合测承诺对外销售的产品均为正品，如若发现假货，我们将假一罚十
2、本仪器自售出之日起一周内，发现有质量问题，包退包换
3、产品自售出之日起保修一年，终身维护，但配件不在保修范围内
4、保修服务只限正常使用下有效
5、保修期间由我公司提供邮寄费
6、更全的产品信息可登陆我司官网www.heceshiye.cn查询
